xulm菲希爾鍍層測(cè)厚儀檢測(cè)電鍍金屬鍍層厚度，對(duì)鍍金、鍍鎳、鍍鋅、鍍錫、鍍銠、鍍鈀、鍍銀等鍍層厚度可以達(dá)到分析，一次性可以分析5層，由于可測(cè)量的元素范圍從鋁至鈾，xulm菲希爾鍍層測(cè)厚儀的應(yīng)用范圍從工業(yè)應(yīng)用伸展到科學(xué)應(yīng)用。xulm菲希爾鍍層測(cè)厚儀可應(yīng)用于治金學(xué)、地質(zhì)學(xué)、鑒證學(xué)或自然科學(xué)等，在工業(yè)方面，廣泛用于五金電鍍、電子半導(dǎo)體、PCB線路、首飾珠寶、衛(wèi)浴、汽配的成份分析和鍍層測(cè)量方面。

　　xulm菲希爾鍍層測(cè)厚儀采用X射線熒光的工作原理是，X射線管產(chǎn)生初級(jí)射線照射在受檢物質(zhì)時(shí)，會(huì)激發(fā)物質(zhì)放射X－射線螢光輻射，特定的元素有特定的輻射信號(hào)，接收器便會(huì)記錄這些能量光譜。不需要先對(duì)樣品進(jìn)行處理便能測(cè)量，樣品可直接放入測(cè)量室進(jìn)行測(cè)量。

　　隨著技術(shù)的日益進(jìn)步，特別是近年來(lái)引入微機(jī)技術(shù)后，采用磁性法和渦流法的測(cè)厚儀向微型、智能、多功能、高精度、實(shí)用化的方向進(jìn)了一步。測(cè)量的分辨率已達(dá)0.1微米，精度可達(dá)到1%，有了大幅度的提高。xulm菲希爾鍍層測(cè)厚儀采用無(wú)損方法既不破壞覆層也不破壞基材，檢測(cè)速度快，能使大量的檢測(cè)工作經(jīng)濟(jì)地進(jìn)行。

　　介紹完xulm菲希爾鍍層測(cè)厚儀的測(cè)量方法后，再來(lái)看看影響xulm菲希爾鍍層測(cè)厚儀測(cè)量的因素是什么呢?

　　1.基體金屬厚度

　　每一種xulm菲希爾鍍層測(cè)厚儀都有一個(gè)基體金屬的臨界厚度。大于這個(gè)厚度，測(cè)量就不受基體金屬厚度的影響。

　　2.基體金屬磁性質(zhì)

　　磁性法測(cè)厚受基體金屬磁性變化的影響(在實(shí)際應(yīng)用中，低碳鋼磁性的變化可以認(rèn)為是輕微的)，為了避免熱處理和冷加工因素的影響，應(yīng)使用與試件基體金屬具有相同性質(zhì)的標(biāo)準(zhǔn)片對(duì)xulm菲希爾鍍層測(cè)厚儀進(jìn)行校準(zhǔn)；xulm菲希爾鍍層測(cè)厚儀亦可用待涂覆試件進(jìn)行校準(zhǔn)。

　　3.基體金屬電性質(zhì)

　　基體金屬的電導(dǎo)率對(duì)測(cè)量有影響，而基體金屬的電導(dǎo)率與其材料成分及熱處理方法有關(guān)。使用與試件基體金屬具有相同性質(zhì)的標(biāo)準(zhǔn)片對(duì)xulm菲希爾鍍層測(cè)厚儀進(jìn)行校準(zhǔn)。

　　4.邊緣效應(yīng)

　　xulm菲希爾鍍層測(cè)厚儀對(duì)試件表面形狀的陡變敏感。因此在靠近試件邊緣或內(nèi)轉(zhuǎn)角處進(jìn)行測(cè)量是不可靠的。

　　5.曲率

　　試件的曲率對(duì)測(cè)量有影響。這種影響總是隨著曲率半徑的減少明顯地增大。因此，在彎曲試件的表面上測(cè)量是不可靠的。

　　所以，xulm菲希爾鍍層測(cè)厚儀的影響因素主要有基體金屬厚度，基體金屬磁性質(zhì)，基體金屬電性質(zhì)，邊緣效應(yīng)和曲率這五個(gè)因素。