XULM菲希爾鍍層測(cè)厚儀菲希爾鍍層測(cè)厚儀：X射線源和接收器位于測(cè)量室的下方，這樣可以快速方便地定位樣品。除此以外，視頻窗口也可以輔助定位，儀器前方的大控制臺(tái)簡(jiǎn)化了操作，特別是在日常生產(chǎn)中測(cè)量大量部件時(shí)特別有用。盡管結(jié)構(gòu)緊湊，但這些儀器都有大容量的測(cè)量室，這樣大的物品也可以測(cè)量。殼體的開(kāi)槽設(shè)計(jì)（C型槽）可以測(cè)量諸如印刷線路板類大而平整的樣品，即使這些樣品可能無(wú)法*放入測(cè)量室。
Thick800A通用分析儀器 是專門研發(fā)用于鍍層行業(yè)的一款儀器，Thick800A電鍍膜厚測(cè)試儀，Thick 800A 電鍍鍍層測(cè)厚儀，元素分析儀，通用分析儀器，可全自動(dòng)軟件操作，可多點(diǎn)測(cè)試，由軟件控制儀器的測(cè)試點(diǎn)，以及移動(dòng)平臺(tái)。是一款功能強(qiáng)大的儀器，配上專門為其開(kāi)發(fā)的軟件，在鍍層行業(yè)中可謂大展身手。
毛細(xì)聚焦X熒光光譜儀、連接器測(cè)厚儀 此系列產(chǎn)品可測(cè)量金屬準(zhǔn)直無(wú)法測(cè)量的微區(qū)，多導(dǎo)毛細(xì)聚焦管光學(xué)元件的光束尺寸可小至5μm，因此可以測(cè)量微電子設(shè)備、高級(jí)電路板、連接器、引腳框架和晶片的超微小區(qū)域。 可以測(cè)量納米級(jí)的鍍層，毛細(xì)聚焦管能將更多的X射線輸出聚焦到樣品上，可以敏感的反應(yīng)鍍層納米級(jí)厚度變化。其焦斑小區(qū)域上的X射線強(qiáng)度比金屬準(zhǔn)直系統(tǒng)高出幾個(gè)數(shù)量級(jí)。 可以實(shí)現(xiàn)更高的測(cè)試精度。
全自動(dòng)鍍層測(cè)厚儀、膜厚儀儀器簡(jiǎn)介：XTD-200是一款專用于檢測(cè)各種異形件，特別適用于五金類模具、衛(wèi)浴產(chǎn)品、線路板以及高精密電子元器件表面處理的成分和厚度分析。該系列儀器不但可以應(yīng)對(duì)平面、微小樣品的檢測(cè)，在面對(duì)凹槽曲面深度0-90mm以內(nèi)的異形件具備巨大的優(yōu)勢(shì)；搭載全自動(dòng)可編程移動(dòng)平臺(tái)，無(wú)人值守，便可實(shí)現(xiàn)多樣品的自動(dòng)檢測(cè)。被廣泛用于各類產(chǎn)品的質(zhì)量管控、來(lái)料檢驗(yàn)和對(duì)生產(chǎn)工藝控制的測(cè)量使用。產(chǎn)品優(yōu)勢(shì)
涂鍍層 環(huán)保ROHS一體機(jī)光譜分析儀 性能優(yōu)勢(shì)：1.微小樣品檢測(cè)：小測(cè)量面積0.03mm²（加長(zhǎng)測(cè)量時(shí)間可小至0.01mm²）2.變焦裝置算法：可改變測(cè)量距離測(cè)量凹凸異形樣品，變焦距離可達(dá)0-30mm3.EFP算法：Li（3）-U（92）元素的涂鍍層，多層多元 素，甚至有同種元素在不同層也可測(cè)量。 4.解譜技術(shù)：減少能量相近元素的干擾，降低檢出限。 5.高性能探測(cè)器：S
全自動(dòng)鍍層測(cè)厚儀 XTD-200是一款于檢測(cè)各種異形件，特別適用于五金類模具、衛(wèi)浴產(chǎn)品、線路板以及高精密電子元器件表面處理的成分和厚度分析。該系列儀器不但可以應(yīng)對(duì)平面、微小樣品的檢測(cè)，在面對(duì)凹槽曲面深度0-90mm以內(nèi)的異形件具備巨大的優(yōu)勢(shì)；搭載全自動(dòng)可編程移動(dòng)平臺(tái)，無(wú)人值守，便可實(shí)現(xiàn)多樣品的自動(dòng)檢測(cè)。被廣泛用于各類產(chǎn)品的質(zhì)量管控、來(lái)料檢驗(yàn)和對(duì)生產(chǎn)工藝控制的測(cè)量使用。
鍍層厚度與ROHS分析儀采用Fp算法的后一代全新核心算法--理論Alpha系數(shù)法，基于熒光X射線激發(fā)的基本原理，從理論上計(jì)算出樣品中每個(gè)元素的一次和二次特征X射線的熒光強(qiáng)度，在基于此計(jì)算Lachance綜合校正系數(shù)，然后使用這些理論a系數(shù)去校正元素間的吸收增強(qiáng)效應(yīng)。、可測(cè)試重復(fù)鍍層、非金屬、輕金屬以及有機(jī)物層。
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